形状 - 顕微鏡

オリンパス株式会社科学事業を継承し、株式会社エビデントとして生まれ変わりました。
SZX-AR1
ARマイクロスコープ

SZX-AR1は、AR(拡張現実)技術を活用し、顕微鏡視野内へ画像や動画を投影表示できるARマイクロスコープシステムです。

顕微鏡下での組立作業やトレーニングの作業を効率化します。

LEXT OLS5500
白色干渉計搭載3Dレーザー顕微鏡

LEXT OLS5500 は、レーザー顕微鏡、白色干渉計、フォーカスバリエーションを1台に搭載した高性能なハイブリッドシステムです。

 研究開発や品質保証、品質管理などの現場におけるニーズに対応するために設計されており、微細な表面形状の詳細な観察、トレーサブルな高精度測定、そして直感的に操作できるユーザーインターフェースを通じて、日々の業務の効率化と品質向上を力強く支援します。

DSX2000
デジタルマイクロスコープ

フル電動デジタルマイクロスコープDSX2000はワークフローに沿って誰でも簡単に操作ができ、さらにカスタマイズ可能なインターフェースにより、研究開発や品質部門の作業を簡素化し、生産性を向上させます。


・フル電動モデル DSX2000 MZH
・多機能オールインワンモデル DSX2000 UZH/SZH

CIX100
コンタミネーション解析システム

CIX100は高い信頼性と高速性を両立したコンタミネーション解析の専用システムです。

工業規格に沿った顕微鏡検査や検査結果のレビュー、レポート出力が、オペトレ不要な簡単操作で行えます。

STM7
測定顕微鏡

STM7は様々な用途に対応する3軸の高性能測定機です。

機械部品や電子部品などをサブミクロンレベルで測定します。

BX53M
正立金属顕微鏡

BX53M 正立金属顕微鏡は、非常に優れた光学性能と豊富なアクセサリーで、

定型的な検査から最新の研究まで幅広い分析用途に対応します。

MX63/MX63L
半導体/FPD検査顕微鏡

MX63/MX63L 半導体/FPD検査顕微鏡は、ウェハの安全に搬送するように設計

されており、半導体の欠陥検査に最適です。

自動ウェハ処理システムに加えて、

半導体内部の小さな欠陥の詳細な解析にはデジタルマイクロスコープも選択

できます。

実体顕微鏡

人間工学に基づいた快適な操作性で鮮明な立体視を可能にします。すべての

モデルにズーム機能を装備しているので倍率を即座に最適に調整できます。

 

・SZX16(ズーム比 16.4:1)
・SZX10(ズーム比 10:1)
・SZX7(ズーム比 7:1)
・SZ61(ズーム比 6.7:1)

工業用画像処理、音響カメラ
工業用画像処理、音響カメラ、ボアスコープ、工業用診断

最新技術により迅速な診断と重要な修理判断を行います。
高解像度の音響カメラや超音波カメラから高解像度のボアスコープまであり、静止画、ビデオ、紫外画像を撮影することが可能です。
こうした新技術は非常に使いやすいだけでなく、同時に修理判断に必要な情報を提供する機能も備えています。

Fluke ii915 超音波カメラ

Fluke ii905 超音波カメラ

Fluke ii1020C 超音波カメラ

Fluke DS703 FC 工業用ビデオスコープ (Fluke Connect™ 対応)

  • デュアル・ビュー・カメラによる高解像度画像診断
  • スムーズで鮮明、安定した画像表示を可能にする高速な処理機能
  • 見やすい 7 インチ LCD スクリーンを搭載
  • ズーム機能によりマクロからマイクロまで柔軟に対応可能
  • ベストショットを撮影できる調整可能なライト