長さ - 厚さ
CL-5610シリーズ
CL-5610/5610S は、ギャップディテクタ VEシリーズセンサと接続して、導体や半導体、絶縁体の厚みを計測する非接触厚さ計です。VE シリーズセンサを２個まで接続することが出来ます。また、2 ch のギャップ計測器としても使用できます。
CL-5610 はセンサ用アンプを本体に内蔵し、VE センサを厚さ計本体に直接接続して使用します。デスクトップでのオフライン計測に適しています（センサと本体間のケーブルは 1.5 m で延長は出来ません）。
CL-5610S はセンサ用アンプを外部に独立させ、VE センサと厚さ計本体を離して使用します。本体と外部アンプ間のケーブル長は標準で 2.5 m、オプションにて最大 10 mまで延長可能です。装置への組込など、センサ設置位置と厚さ計本体を離して設置する場合に適しています。
豊富な計測項目
厚みとギャップを計測できます。また、それぞれに対し、偏差値・最大値・最小値・最大幅値（最大−最小）の演算値も表示出来ます。
導体・半導体の他、絶縁体の厚みも測定可能
CL-0300 絶縁体測定機能（オプション）により、薄いプラスチックフィルムやガラス板などの絶縁体の厚みを計測することができます。
導通が完全に取れないサンプルなども安定した厚み計測が可能
サンプルをフッ素系膜でコーティングしたテーブルで保持する場合などは、サンプルと本体（コモン）間の導通を取ることが困難でした。これまでは、広い面積でサンプルと接触させることで安定性を確保する必要がありましたが、CL-0210 高インピーダンス接地モード機能（オプション）により、その面積を小さくすることができます。また、同面積に於いてはより高い安定性を確保することができます。
高分解能演算機能オプション(CL-0200)で最小表示分解能 0.02 μｍ を実現＊1
＊1： VE-2011/5010/5011 使用時。VE-5010/5011 は、CL-0201 測定範囲変更オプションで、測定範囲を 20 ～ 200 μm にした場合に適用
測定、統計、プリントアウト
その場で完結
- 表示分解能 100μm未満0.1μm、100μm以上1μm
- プリンタ内蔵の膜厚計最上位モデル
- ブロック／グループ統計計算機能
- 新開発プローブ（別売）
プローブ型膜厚計の標準モデル(L-600 Standard)
データ保存性・出力性を強化したBluetooth搭載の上位モデル(L-600 Expert)
電磁式・渦電流式各プローブ別売（必須オプション）
ブロック／グループ統計計算機能
廉価・小型のセンタ一体型デュアル膜厚計 自動素地判別機能搭載 測定範囲:0～2000µm データメモリ約1000点、統計計算機能
プローブ型としても使えるセンサ一体型電磁膜厚計 測定範囲:0～5000µm データメモリ13000点（Premium） 統計計算機能
小型のプローブ型デュアル膜厚計 自動素地判別機能搭載 測定範囲 電磁式・渦電流式共通:0～2000µm データメモリ約1000点、統計計算機能
一定の力と角度で測定を安定させる補助スタンド 対応プローブ:LFPおよびLHP-20/20C/30/30C/J その他対応器種:LZ-990
39DL PLUS は、金属・樹脂・複合材料の厚さを高精度に測定できる ハンディ型超音波厚さ計 です。
シングルエレメント/デュアルエレメント探触子に対応し、幅広い材料・用途へ適用可能。
堅牢で携帯性が高く、現場での迅速な点検から研究用途まで幅広く活躍します。
・シングル/デュアルエレメント探触子対応で高精度測定と塗装・腐食測定のどちらにも対応
・0.01mm(0/001インチ)の高分解能測定
・0.08mm(0.003インチ)～635mm(25インチ)の広範囲厚さ測定
・最大4層までの多層材の厚さを同時測定可能（オプション）
・金属、プラスチック、ゴム、複合材、ガラス、セラミックなど多用途に対応
・耐久性の高い筐体、防水・防塵設計による高い信頼性
・Aスコープ表示対応：波形確認によるより確実な測定
・内部メモリ搭載に大量データの保存・管理が可能 、解析機能も搭載
・操作性の良いUIで現場作業向けの視認性・操作性を最適化